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固体表面内反射光谱的测定

作者:小编    发布时间:2026-02-01 14:17:04

  内反射附件也叫衰减全反射(ATR)附件,其工作原理是将来自红外光源的光聚焦反射到KRS-5(或Ge,ZnSe等)晶体上,再入射到样品的表面,由于样品的折射率小于晶体的折射率,入射角比临界角大,光线完全被反射产生全反射现象。事实上,光线并不是在样品表面被直接反射回来,而是入射进入样品一定的深度(一般约为几微米)后再返回表面,所以收集衰减全反射光就可以获得样品的衰减全反射光谱。

  答:(1)红外辐射通过穿透样品与样品发生相互作用而产生吸收,因此ATR谱是有投射吸收谱的特性和形状,但由于不同波数区间ATR技术灵敏度不同,因此,ATR谱吸收峰相对强度与投射谱相比较并不完全一致。

  答:光穿透样品的深度很小的,一般在微米量级,水对光的吸收容易控制在一定范围内,其次,操作简捷,样品厚度重复性也比用透射性样品要好得多,易于扣除含水的本底。

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